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产品信息

粒径 · 分子量测量系统 ELSZ-2000S

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zeta电位·粒径·分子量测系统 ELSZ-neo

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ZETA电位·粒径·分子量测系统 ELSZ-2000ZS

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多样品nano粒子径测量系统 nanoSAQLA（带自动取样器 AS50）

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多检体纳米粒径量测系统nanoSAQLA

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粒径 · 分子量测量系统 ELSZ-2000S

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测量机器/ Measuring machine 查看更多+

显微分光膜厚仪 OPTM series

产品信息特点头部集成了薄膜厚度测量所需功能通过显微光谱法测量高精度绝对反射率（多层膜厚度彩神Ⅱ，光学常数） 1点1秒高速测量显微分光下广范围的光学系统（紫外至近红外）区...
量子效率测量系统 QE-2000/2100

产品信息特点测量精度高可瞬间测量绝对量子效率（绝对量子收率）可去除再激励荧光发光采用了积分半球unit彩1，实现了明亮的光学系采用了低迷光多通道分光检出器818合彩，大大减少了...
膜厚量测仪 FE-300

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膜厚量测仪 FE-300

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液晶层间隙量测设备 RETS series

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相位差测量装置 RETS-100nx

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彩色滤光片分光特性测量装置 LCF series

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嵌入式膜厚检测仪

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高速LED光学特性仪 LE series

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Load Port对应膜厚测量系统 GS-300

产品信息特点支持集成到 Φ300mm EFEM 单元的备用端口实现嵌入在晶片中的布线图案的图案对齐支持半导体工艺的高吞吐量要求支持槽口对齐功能小尺寸规格高精度自动校准单元自动...
分光干涉式晶圆膜厚仪 SF-3

即时检测 WAFER基板于研磨制程中的膜厚玻璃基板于减薄制程中的厚度变化 (强酸环境中) 产品特色非接触式1号购彩、非破坏性光学式膜厚检测采用分光干涉法实现高度检测再现性可进行高速...
多通道光谱仪 MCPD-9800 / 6800

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嵌入式膜厚检测仪

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相位差测量装置 RETS-100nx New

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